広島大学 大学院先端物質科学研究科 半導体集積科学専攻

研究設備

ラマン散乱分光措置

日本分光

NR-1800

ラマン散乱光を検出することで試料の結晶性や応力を評価します。

YAGレーザ(532nm)、He-Cdレーザ(442、325nm)の波長により測定可能です。